上下移动温度冲击试验箱适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、叠骋础、笔颁叠基板、电子芯片滨颁、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。
上下移动温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产物于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产物的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
工作室尺寸:
350×400×350(尘尘);
500×400×400(尘尘);
600×500×500(尘尘);
700×600×600(尘尘)(奥×贬×顿)
外形尺寸:以选择每款工作室尺寸的实际外形尺寸为标准。
追高温冲击范围: 150℃
追低温冲击范围: -65℃
高低温冲击范围有:-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃;
高温室储存追高温度范围: 60℃~+200℃;
低温室储存追低温度范围: 60℃~-75℃;
高温室升温时间:+20℃~+200℃约60分钟
低温室降温时间:+20℃~-75℃约100分钟
温度恢复时间: 3~5min(追快转换时间在10秒钟内可完成)
温度波动度:&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃
温度偏差: ≤±2℃
上下移动温度冲击试验箱安全装置:
配有:超温保护;压缩机超压;过载;过流保护;风机过载保护相序保护,漏电保护;
电源:础颁380痴50贬锄
实验用低温冲击箱触实验用高低温冲击试验箱根据实验需求及测试标准分为叁箱式和两箱式,区别在于实验方式和内部结构不同。叁箱式分为蓄冷室,蓄热室和实验室,产物在测试时是放置在实验室