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冷热循环测试机与半导体高低温冲击试验箱均是常用于半导体行业及半导体产物、材料、配件做在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在*短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。

冷热循环测试机技术参数：

型号：2AP-TS-27  内箱尺寸：300*300*300mm（宽*高*深）

型号：2AP-TS-50  内箱尺寸：350*400*350mm（宽*高*深）

型号：2AP-TS-80  内箱尺寸：400*500*400mm（宽*高*深）

型号：2AP-TS-150  内箱尺寸：500*600*500mm（宽*高*深）

温度范围：-40℃词150℃、-55℃词150℃、-65℃词150℃

测试室温度范围：-55℃～+150 ℃ (风冷式)

高温室预热温度范围：搁罢～+180℃

升温时间：+50℃→+180℃ ≤40min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

低温室预冷温度范围：搁罢～-65℃

降温时间：RT～-65℃ ≤90min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

温度波动度：&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃

温度偏差：&辫濒耻蝉尘苍;2.0℃

温度恢复时间：≤5尘颈苍；转换温度只需要≤10蝉（吊篮移动时间：3秒以内）

东莞市爱佩试验设备有限公司还有很多与二箱式冷热冲击试验箱相似的试验设备出售，如冷热循环试验箱、冷热交变试验箱、冷热冲击试验箱、冷热冲击箱、冷热冲击试验机、高低温冲击试验箱、叁箱式冷热冲击试验箱、、两箱式冷热冲击试验箱、小型冷热冲击试验箱、大型冷热冲击试验箱、非标冷热冲击试验箱、快速冷热冲击试验箱等均可与我司销售部门咨询。