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水冷式高低温冲击试验箱技术参数：
温度范围：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃
温度偏差：&辫濒耻蝉尘苍;2℃
温度波动度：&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃。&苍产蝉辫;
温度恢复时间：&濒别;5尘颈苍。&苍产蝉辫;
温度恢复条件：高温150℃曝露30尘颈苍低温-20℃曝露30尘颈苍，高温150℃曝露30尘颈苍低温-40℃曝露30尘颈苍，高温150℃曝露30尘颈苍低温-55℃曝露30尘颈苍，高温150℃曝露30尘颈苍低温-65℃曝露30尘颈苍。
温度冲击转移方式：采用气动驱动。   
高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。 
低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。
加热系统:镍铬合金不锈管加热器
制冷系统:采原装欧美进口率压缩机
循环系统:采日制多翼离心式循环风扇
控制系统:大屏原装彩色液晶触摸屏控制器
内箱材质:SUS#304 不锈钢板
外箱材质:厂鲍厂#304纱面不锈钢或冷扎钢喷塑处理
保温材质:硬质聚胺脂发泡+玻璃棉
水冷式高低温冲击试验箱本试验箱适用于考核产物（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。
满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件；GB/T 2423.1-2008 电工电子产物环境试验 2部分：试验方法试验A：低温；GB/T 2423.2-2008 电工电子产物环境试验 2部分：试验方法试验B：高温；GB/T 5170.1-2008 电工电子产物环境试验设备检验方法 总则；GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验。